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環(huán)保APP正式上線

OMNISCAN 相控陣超聲波探傷儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱北京泰亞賽福科技發(fā)展有限責任公司
  • 品       牌
  • 型       號MX PA
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質代理商
  • 更新時間2022/8/3 13:42:16
  • 訪問次數(shù)1374
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關于我們


泰亞賽福集團公司—始創(chuàng)于
1999年,15年的行業(yè)給驗積累,總部位于北京經濟技術開發(fā)區(qū);
集團子公司:
北京
TAYASAF公司
上海TAYASAF公司
香港TAYASAF公司
美國3EM公司
德國3EM公司


 

 

 

 

 


 

 

 

培訓支持:

通過15的積累,我們擁有一支相當成熟的技術團隊,能夠為廣大客戶提供選型、產品知識培訓、終端客戶培訓、技術咨詢等售前和售后支持服務。

 

 

 

 

 

展會推廣:
泰亞賽福多次參加各個行業(yè)的展會/研討會/高峰論壇,集中力度進行推廣!

 

 

 

 

 

 

出國考察:
泰亞賽福多次遠赴美國、加拿大、德國、日本、韓國、瑞士、意大利等國家的廠家參觀考察,進行產品培訓。
 

 

 

 

 

 

員工風采

 

 

 

 

 

 

無損檢測 | 氣體檢測 | 實驗室儀器 | 流體控制 | 水質檢測 | 環(huán)境安全 | 電工儀表 | 材料分析設備 | 幾何體檢測 | 農林牧副 | 機械檢測 | 陰極保護防腐 | 地下管線檢測 | 建筑工程檢測 | 焊接與切割 | 勞動安全保護 | 工具與小型設備 | 消防搶險救援 | 管道機具 | 紅外測溫儀
相控陣技術生成超聲波束,這些超聲波束的參數(shù),如:角度、聚焦范圍和焦點尺寸等,可以通過軟件進行控制。而且,聲束可在一個很長的陣列上被多路切換。這些特點為相控陣技術增加了一系列新的應用功能。例如,在掃查工件時,可以不移動探頭本身而快速改變聲束角度。相控陣還可以代替多個探頭以及機械部分。以可以變換角度的聲束檢測部件,可以充分發(fā)揮檢測性能、優(yōu)化信噪比,而不用考慮缺陷方向。
OMNISCAN 相控陣超聲波探傷儀 產品信息

OMNISCAN 相控陣超聲波探傷儀
相控陣技術生成超聲波束,這些超聲波束的參數(shù),如:角度、聚焦范圍和焦點尺寸等,可以通過軟件進行控制。而且,聲束可在一個很長的陣列上被多路切換。這些特點為相控陣技術增加了一系列新的應用功能。例如,在掃查工件時,可以不移動探頭本身而快速改變聲束角度。相控陣還可以代替多個探頭以及機械部分。以可以變換角度的聲束檢測部件,可以充分發(fā)揮檢測性能、優(yōu)化信噪比,而不用考慮缺陷方向。 
相控陣的優(yōu)勢
相控陣技術具有以下優(yōu)勢:
聲束角度、聚焦范圍和焦點尺寸的軟件控制。
僅用一個小型電子控制的多晶片探頭即可實現(xiàn)多角度掃查。
對復雜幾何形狀材料的檢測具有更大的靈活性。
無活動部件的高速掃查。
相控陣軟件
全功能A掃描、B掃描和C掃描
以OmniScan UT的功能為基礎建立的OmniScan® PA可提供全功能A掃描、B掃描和C掃描顯示。 
全功能扇形掃查
實時體積校正顯示
高于20 Hz的刷新率(可高達40 Hz)
高級實時數(shù)據(jù)處理
采集數(shù)據(jù)時,實時數(shù)據(jù)插值改進了缺陷的空間顯示。
用戶可選的高、低通濾波器提高了A掃描和成像的質量。
操作者使用投影功能,可以同時看到垂直顯示的A掃描和扇形掃描圖像。
校準過程和參數(shù)
使用"下一步"和"返回"按鈕,可以根據(jù)向導菜單的指導逐步進行操作。 
組向導和聚焦法則向導
使用組向導,用戶可輸入所有探頭、零件和聲束的參數(shù),并一步生成所有聚焦法則,而非每改變一個參數(shù)便計算一次聚焦法則。
逐步向導可防止用戶遺漏對某一參數(shù)的修改。
在線幫助提供參數(shù)設置的一般信息。
多組選項
現(xiàn)在可以用兩種配置管理一個以上的探頭:不同的夾角、不同的掃查方式、不同的檢測區(qū)域以及其它一些參數(shù)。 
多組檢測可采用的配置
A 使用一個單獨的64個或更多晶片的相控陣探頭,創(chuàng)建2個不同的組:
45º線性掃查,通過底面反射來覆蓋零件的上部
60º線性掃查,覆蓋零件的下部
B 使用一個單獨的64晶片或128晶片的相控陣探頭,創(chuàng)建2個不同的組:
低增益下的0º線性掃查
高增益下的0º線性掃查
C 使用一個單獨的64晶片或128晶片的相控陣探頭,創(chuàng)建3個不同的組:
45º線性掃查,通過底面反射來覆蓋零件的上部
60º線性掃查,覆蓋零件的下部
從35º到70º的扇形掃查,可增加檢出率
D 使用兩個16晶片或64晶片的相控陣探頭,創(chuàng)建2個不同的組:
從35º到70º的扇形掃查,以通過底面反射從工件的左側進行檢測
從35º到70º的扇形掃查,以通過底面反射從工件的右側進行檢測
相控陣模塊技術規(guī)格 
(適用于OMNI-M-PA16128)
外型尺寸 
(寬 x 高 x 厚)
244毫米 x 182毫米 x 57毫米 
(9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸)
重量
1.2公斤(2.6磅)
接口
1個OmniScan相控陣探頭接口; 
2個BNC接口(1個用于脈沖發(fā)生器/接收器, 
1個用于常規(guī)超聲接收器)(32:32和32:128型,無BNC接口)
聚焦法則數(shù)量
256個
探頭識別
自動探頭識別和設置
脈沖發(fā)生器/接收器
 
孔徑
16個晶片*
晶片數(shù)量
128個晶片
脈沖發(fā)生器
 
電壓
每個晶片80 V
脈沖寬度
從30 ns~500 ns可調,分辨率為2.5 ns
下降時間
小于10 ns
脈沖形狀
負方波
輸出阻抗
小于25 Ω
接收器
 
增益
0 dB~74 dB,zui大輸入信號1.32Vp-p
輸入阻抗
75 Ω
系統(tǒng)帶寬
0.75 MHz~18 MHz(-3 dB)
聲束形成
 
掃查類型
扇形和線性
掃查數(shù)量
高達8次
激活晶片數(shù)
16個*
晶片數(shù)
128個
發(fā)射延遲范圍
0 µs~10 µs,2.5 ns增量
接收延遲范圍
0 µs~10 µs,2.5 ns增量
數(shù)據(jù)采集
數(shù)字化頻率
100 MHz(10 bits)
zui大脈沖速率
高達10 kHz(C掃描)
采集深度
鋼中縱波29米,10 ms帶壓縮。鋼中縱波0.24米,81.9 µs不帶壓縮
數(shù)據(jù)處理
數(shù)據(jù)點數(shù)
高達8000
實時平均次數(shù)
2, 4, 8, 16
檢波
射頻、全波、正半波、負半波
濾波
低通(根據(jù)探頭頻率調節(jié)),數(shù)字濾波(帶寬、頻率范圍)
視頻濾波
平滑處理(根據(jù)探頭頻率范圍調節(jié))
數(shù)據(jù)存儲
A掃描記錄(TOFD)
每秒6000個A掃描(512點,8比特A掃描)
C掃描類型數(shù)據(jù)記錄
I、A、B,zui高10 kHz(波幅或TOF)
zui大文件容量
取決于內存:180 MB(或者300 MB可選)
數(shù)據(jù)顯示
A掃描刷新頻率
實時:60 Hz
體積校正的S掃描
高達40 Hz
數(shù)據(jù)同步
按內部時鐘
1 Hz~10 kHz
按編碼器
單軸或雙軸
可編程時間校正增益(TCG)
點數(shù)
16個(每個通道的聚焦法則有1個TCG曲線)
報警器
報警器數(shù)量
3個
條件
閘門的任意邏輯組合
模擬輸出
2個
 
*還可提供16:16、16:16M、16:64M、32:32、32:128型

15168338725
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